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小刻度有0.01和0.001两种。 测量厚度可达50mm 部分量表采用陶瓷测头，与工作接触面为陶瓷，可延长使用寿命。另外，还有FE（材质为加硬SK4）和AT（材质为特殊镀层）可供选择 厚度计测厚仪厚度测量日本罢贰颁尝翱颁碍原装

SM-112D日本罢贰颁尝翱颁碍厚度表测厚仪原装 品牌：日本TECLOCK得乐 型号：SM-112D 最小刻度：0.01mm 测量范围：10mm 指示误差(mm)：±15um 平行度：5um 表盘刻度：0-50-100 测量力：2.5以下 测头形状：Φ10平型 测砧形状：Φ10平型

SM-112AT日本罢贰颁尝翱颁碍厚度表测厚仪原装 品牌：日本TECLOCK得乐 型号：SM-112AT 最小刻度：0.01mm 测量范围：10mm 指示误差(mm)：±15um 平行度：5um 表盘刻度：0-50-100 测量力：0.8以下 测头形状：Φ10平型 测砧形状：Φ10平型

SM-112FE日本罢贰颁尝翱颁碍厚度表测厚仪原装 品牌：日本TECLOCK得乐 型号：SM-112FE 最小刻度：0.01mm 测量范围：10mm 指示误差(mm)：±15um 平行度：5um 表盘刻度：0-50-100 测量力：2.5以下 测头形状：Φ10平型 测砧形状：Φ10平型

SM-112P日本罢贰颁尝翱颁碍厚度表测厚仪原装 品牌：日本TECLOCK得乐 型号：SM-112P 最小刻度：0.01mm 测量范围：10mm 指示误差(mm)：±15um 平行度：5um 表盘刻度：0-0.5-1 测量力：2.5以下 测头形状：Φ10平型 测砧形状：Φ10平型

SM-112日本罢贰颁尝翱颁碍厚度表测厚仪原装 型号：SM-112 最小刻度：0.01mm 测量范围：10mm 指示误差(mm)：±15um 平行度：5um 表盘刻度：0-50-100 测量力：2.5以下 测头形状：Φ10平型 测砧形状：Φ10平型

TPM-617 日本罢贰颁尝颁翱碍得乐管道壁厚厚度测量仪 型号：TPM-617 品牌：日本TECLOCK 测量范围：0-10mm 下测头：1.6mm

0.001尘尘测厚规厚度测量仪日本罢贰颁尝颁翱碍得乐 型号：SM-1201L 最小刻度：0.001mm 测量范围：1(3)mm 精度：±3um 平面度：3um 表盘刻度：0-100-200 测量力：1.5 or less 上测头：φ 10陶瓷平测头 下测头：φ 10陶瓷平测头g 重量：420g

SM-114LW 表盘式镜片厚度测量仪日本罢贰颁尝颁翱碍得乐 型号：SM-114LW 测量范围：0?10mm 最小刻度：0.01mm 测头：上、下均为3.2mm球形测头 主要用于测量镜片凹凸处的最大厚度

SM-114LS 最小厚度测量测厚仪陶瓷测头日本罢贰颁尝翱颁碍 型号：SM-114LS 测量范围：0?10mm 最小刻度：0.01mm 测头：上测头：3.2mm球形钢质；下测头：10mm平形陶瓷

SM-112LS 最小厚度测量测厚仪陶瓷测头日本罢贰颁尝翱颁碍 型号：SM-112LS 测量范围：0?10mm 最小刻度：0.01mm 测头：上测头：3.2mm球形钢质；下测头：10mm平形陶瓷

SM-112-80g 厚度计测厚仪10尘尘陶瓷测头日本罢贰颁尝翱颁碍原装 型号：SM-112-80g 测量范围：0?10mm 最小刻度：0.01mm 测头：上、下10mm陶瓷圆柱测头 测量力：0.8N以下

SM-112-3A 厚度计测厚仪5尘尘钢测头日本罢贰颁尝翱颁碍原装 型号：SM-112-3A 测量范围：0?10mm 最小刻度：0.01mm 测头：上、下5mm钢圆柱测头

小刻度有0.01和0.001mm。 数字显示，读数简单 应用广泛，可测量纸张、头发、橡胶板、金属管、珍珠等的厚度。 日本TECLCOK得乐 数显式厚度表厚度测量仪

小刻度有0.01和0.001mm。 数字显示，读数简单 应用广泛，可测量纸张、头发、橡胶板、金属管、珍珠等的厚度。 日本TECLCOK得乐 数显式厚度测量仪

厚度测量，用于测量橡胶、热可塑性弹性体、塑料薄膜，布料、纺织品等 PG和PF系列符合这些标准的数显厚度测量仪 笔贵系列厚度测量仪厚薄表日本罢贰颁尝翱颁碍